卷褶伪影

当受检物体的尺寸超出FOV的大小，FOV外的组织信号将折叠到图像的另一侧，这种折叠被称为卷褶伪影。

MR信号在图像上的位置取决于信号的相位和频率，信号的相位和频率分别由相位编码和频率编码梯度场获得。信号的相位和频率具有一定范围，这个范围仅能对FOV内的信号进行空间编码，当FOV外的组织信号融入图像后，将发生相位或频率的错误，把FOV外一侧的组织信号错当成另一侧的组织信号，因而把信号卷褶到对侧，从而形成卷褶伪影。

实际上卷褶伪影可以出现在频率编码方向，也可以出现在相位编码方向上。由于在频率方向上扩大信号空间定位编码范围，不增加采集时间，目前生产的MRI仪均采用频率方向超范围编码技术，频率编码方向不出现卷褶伪影，因此MR图像上卷褶伪影一般出现在相位编码方向上。在三维MR成像序列中，由于在层面方向上也采用了相位编码，卷褶伪影也可以出现在层面方向上，表现为第一层外的组织信号卷褶到最后一层的图像中。

卷褶伪影具有以下特点：

（1）由FOV小于受检部位所致，

（2）常出现在相位编码方向上，

（3）表现为FOV外一侧的组织信号卷褶并重叠到图像的另一侧。

避免卷褶伪影的对策有：

（1）增大FOV，使之大于受检部位；

（2）切换频率编码与相位编码的方向，把层面中径线较短的方向设置为相位编码方向。如进行腹部横断面成像时，把前后方向设置为相位编码方向不易出现卷褶伪影；

（3）相位编码方向超范围编码，是指对相位编码方向上超出FOV范围的组织也进行相位编码，不同的MRI仪产家采用不同方法进行超范围相位编码。

如西门子公司采用的过度采样（over sample）技术，根据被检组织在相位编码方向上超出FOV的多少来决定过度编码的范围，可以1％到100％范围内随意选择，采集时间随所选的范围成比例增加。

如下图：

上图是西门子的相位过采样技术，虚框内的数据也是采集的，只是傅里叶转换的时候只显示实框内的，虚框内会出现卷褶，但是不显示，因此就去卷褶了或者防卷褶了。（相位编码方向是前后方向），下图是参数图，可以看见这个技术参数选项。

GE公司采用去相位卷褶（no phase wrap，NPW）技术，通常用于2个NEX或4个NEX的序列，如果是2个NEX，施加NPW技术后实际上只执行1个NEX，但相位编码范围增大1倍，采集的总相位编码线（MR信号）数目没有改变，因此不增加采集时间；如果是1个NEX的序列则需要增加采集时间，与西门子公司过度采样技术相仿，但过度编码的范围不能随意选择。